對(duì)太陽(yáng)能電池/模組的測(cè)試制造商而言,*重要的即是 I-V 的測(cè)試,因?yàn)樘?yáng)能電池/模組的功率或光電轉(zhuǎn)換效率的量測(cè)結(jié)果會(huì)直接影響產(chǎn)品價(jià)格。因此,高準(zhǔn)確度且可重復(fù)的 I-V測(cè)試結(jié)果不僅是品質(zhì)議題,同時(shí)也是獲利的關(guān)鍵。
然而,太陽(yáng)能電池的 I-V 測(cè)試,意味著對(duì)各種不同技術(shù)的挑戰(zhàn),因此要達(dá)到穩(wěn)定且準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,通常是非常困難的,即使是使用 AAA 級(jí)類型的日光模擬光源。這些挑戰(zhàn)包括 :
- 光譜失配修正
- 將不均勻性的影響降至*低
- 同步量測(cè) : 避免因輻照度暫時(shí)的不穩(wěn)定所產(chǎn)生的錯(cuò)誤
- 溫度修正 : 控制到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件想要的溫度
- 低應(yīng)力探針 : 以避免電池破損
- 探針接觸位置重復(fù)性*佳化、縮小探針陰影
Chroma 58301 結(jié)晶矽太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)適用于研發(fā)和線上制程應(yīng)用 (請(qǐng)參閱Chroma 3720),透過(guò)備配的 WacomR AAA+ 級(jí)日光模擬光源,完整的光譜匹配、溫度修正技巧和探針系統(tǒng),使得Chroma 58301結(jié)晶矽太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)可達(dá)到*高的重復(fù)測(cè)試率,并符合客戶所要求*高標(biāo)準(zhǔn)的量測(cè)精準(zhǔn)度。
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