主　要　特　色：
適用于 5 吋及 6 吋太陽能芯片
高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率
2D 幾何計算檢測
芯片表面瑕疵檢測
微裂隙檢測
鋸痕檢測
Resistively/Thickness 測試
壽命測試
簡易的疑難解答程序
進料 : 堆棧盒 / 卡式盒
分類 : 堆棧盒 / 卡式盒

Chroma 3710整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試，是一套可針對使用者客制化的太陽能晶片檢測系統(tǒng)。具有高產(chǎn)能及低破片率的優(yōu)點，非常適合用于進料端，晶片可依使用者定義自動分類到堆疊盒或卡式盒內(nèi)，的自動轉(zhuǎn)換技術(shù)可以大量節(jié)省人工轉(zhuǎn)換所需的系統(tǒng)待轉(zhuǎn)時間，并應用高科技化的技術(shù)，確保太陽能晶片輸送系統(tǒng)中重要關(guān)鍵之一的低破片率