可以利用標(biāo)準(zhǔn)試塊手動(dòng)或自動(dòng)生成DAC、AVG曲線；
自動(dòng)顯示缺陷回波位置（深度d、水平p、距離s、波幅H）；l
自由切換三種標(biāo)尺（深度d、水平p、距離s）；l
10個(gè)獨(dú)立探傷通道，可自由輸入并存儲(chǔ)任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)，（可根據(jù)用戶(hù)需求擴(kuò)展）；l
可存儲(chǔ)300幅A掃圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶(hù)需求擴(kuò)展）； l
高采樣率，低噪聲；
自動(dòng)顯示缺陷回波位置（深度d、水平p、距離s、波幅H）；l
自由切換三種標(biāo)尺（深度d、水平p、距離s）；l
10個(gè)獨(dú)立探傷通道，可自由輸入并存儲(chǔ)任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)，（可根據(jù)用戶(hù)需求擴(kuò)展）；l
可存儲(chǔ)300幅A掃圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶(hù)需求擴(kuò)展）； l
高采樣率，低噪聲；
自動(dòng)顯示缺陷當(dāng)量φ值；
探頭方式：?jiǎn)尉?、雙晶、穿透；
回波抑制；
回波次數(shù)分析。
輔助功能：
輔助功能：
自動(dòng)增益；回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率；
中英文操作界面；
角度和K值兩種輸入方式；
閘門(mén)聲光報(bào)警。
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