德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀

產(chǎn)品描述：

在設(shè)計上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數(shù)器探測器來說），信號強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點的測量。和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造的激勵條件。

德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置zui高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。

測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進(jìn)行多點測量，或是在多個不同樣品上進(jìn)行批量測量，都可以通過快速編程自動化地完成。

由于XY平臺在艙門打開時，能自動彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡便。激光點標(biāo)示處就是樣品的測量位置。

產(chǎn)品特征：

帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。zui高工作條件： 50 kV, 50W

X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管

準(zhǔn)直器：4個，可自動切換，從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm

基本濾片：3個，可自動切換

測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)

可編程XY平臺

視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。

設(shè)計獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控。

研發(fā)項目

電子行業(yè)

接插件和觸點

黃金、珠寶及手表行業(yè)

測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd

鍍層

痕量分析

根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量

分析硬質(zhì)鍍層材料

應(yīng)用實例：

德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量zui多不能超過1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測量需求。