Chroma 58173-M 是全新的量測LED全光通量之手動測試設(shè)備。在LED的裸晶與晶粒測試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1) 。然而，傳統(tǒng)的量測方式存在一些缺點(diǎn)，例如: 準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、與測試時(shí)間較長等，以致于導(dǎo)入LED wafer/chip 生產(chǎn)線時(shí)會發(fā)生問題。

Chroma 58173-M 研發(fā)出一種高速精準(zhǔn)的LED全光通量的量測方式 (見圖 2)。 這種**方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的LED部分光通量，也明顯提升了量測**度。

在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過 Chroma 之光學(xué)設(shè)計(jì)與組件取得**、穩(wěn)定、快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173-M 搭載一個(gè)6吋之芯片載盤與校正基座，提供使用者一個(gè)完整的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173-M 提供一個(gè)完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿足使用者的測試需求。