固定電極介質(zhì)損耗介電常數(shù)因數(shù)高低頻測(cè)試

GCSTD-DII

一、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法

二、固定電極介質(zhì)損耗介電常數(shù)因數(shù)高低頻測(cè)試技術(shù)要求：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電極類型：固定電極-測(cè)量電極φ38mm

測(cè)試頻率：20HZ-5MHZ

測(cè)試電極：黃銅電極

測(cè)試環(huán)境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(cè)試頻率可以掃描進(jìn)行測(cè)試

*2、測(cè)試頻率可以單點(diǎn)測(cè)試

*3、測(cè)試頻率可以多頻設(shè)置測(cè)試

4、測(cè)試速度模式：快速、中速、慢速

5、測(cè)試數(shù)據(jù)與曲線顯示：

*6、電阻率—測(cè)試頻率

*7、介電常數(shù)--測(cè)試頻率

*8、相對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率

*9、相對(duì)介電常數(shù)虛部--測(cè)試頻率

*10、相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部--測(cè)試頻率

*11、介質(zhì)損耗--測(cè)試頻率

*12、電容值--測(cè)試頻率

四 、測(cè)試電橋參數(shù)

測(cè)試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測(cè)量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式 自動(dòng), 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 電流模式（內(nèi)阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能 10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）