絕緣子傘套耐漏電及耐電蝕損試驗(yàn)箱

設(shè)備型號(hào)：NLD-AII

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T  20142-2006 標(biāo)稱(chēng)電壓高于1000V的交流架空線路用線路柱式復(fù)合絕緣子---定義 、試驗(yàn)方法及接受準(zhǔn)則

GBT 22079-2008 標(biāo)稱(chēng)電壓高于1000V使用的戶內(nèi)和戶外聚合物絕緣子 一般定義、試驗(yàn)方法和接受準(zhǔn)則

試驗(yàn)原理：

在一個(gè)封閉的鹽霧室內(nèi)，水平和垂直各放置一個(gè)絕緣子，對(duì)絕緣子施加工頻高壓，長(zhǎng)期運(yùn)行1000小時(shí)，判斷工頻高壓及鹽霧室對(duì)絕緣子的蝕損程度，及絕緣子的耐漏電概況，從而判斷絕緣子是否合格。

設(shè)備組成：

高壓發(fā)生器：主要由調(diào)壓器和變壓器組成，主要作用是升壓和降壓

霧化試驗(yàn)箱：主要由霧化室和超聲波霧化器組成，在霧化室內(nèi)，由超聲波霧化器產(chǎn)生規(guī)定流量的霧化顆粒后，附著在絕緣子表面，形成露珠后，對(duì)絕緣子進(jìn)行腐蝕。

控制系統(tǒng)：控制整個(gè)試驗(yàn)系統(tǒng)的開(kāi)始、暫停和結(jié)束。

軟件功能：

1、 曲線顯示：實(shí)時(shí)顯示試驗(yàn)電壓和電流曲線

2、 負(fù)載電流：實(shí)時(shí)顯示負(fù)載電流，過(guò)載保護(hù)

3、 上下限位：上下限位狀態(tài)指示燈

4、 試驗(yàn)暫停：時(shí)間期間可以中斷試驗(yàn)過(guò)程后，繼續(xù)開(kāi)始試驗(yàn)，累積記錄試驗(yàn)總時(shí)長(zhǎng)

5、 參數(shù)校準(zhǔn)：可以對(duì)電壓和電流參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)

6、 歷史數(shù)據(jù)：可以查詢(xún)歷史數(shù)據(jù)

7、 電子報(bào)告：可以保存電子報(bào)告

8、 數(shù)據(jù)導(dǎo)出：可以通過(guò)U盤(pán)接口導(dǎo)出數(shù)據(jù)

技術(shù)參數(shù)：

1、輸入電壓：AC-220V

2、輸出電壓：AC0～50KV，DC -50～0 KV可以調(diào)

3、電器容量：50KVA

4、電壓試驗(yàn)精度：<2%

5、高壓側(cè)輸出電流： ≥1A

6、高壓側(cè)輸出電流：>250MA時(shí)，*電壓降<5%

7、電流測(cè)量精度：<1%

8、門(mén)限位開(kāi)關(guān)：打開(kāi)門(mén)后，電壓斷電并自動(dòng)歸零

9、過(guò)流保護(hù)：可設(shè)定

10、試品離霧室頂?shù)拈g距：>400mm，

11、試品離墻的間距：>400mm

14、試品數(shù)量：水平1只，垂直1只

15、試驗(yàn)時(shí)間：1000小時(shí)

16、噴霧方式：超聲波霧化器

17、試樣處的噴霧速度：3M/S

18、噴霧量為：（0.4±0.1）L/m3.H

19、霧室容積：4m3

20、噴霧液體： NaC1和去離子水配制好的鹽水

23、霧化顆粒：5μm-10μm

24、控制系統(tǒng)：嵌入式工業(yè)計(jì)算機(jī)

25、主機(jī)尺寸：長(zhǎng)寬高=3400*1300*1800（MM）

26、設(shè)備重量：1500KG

如果試樣厚度的測(cè)量能精確到土0.005mm,則對(duì)平均厚度為1.6mm的試樣，其厚度測(cè)量誤差能達(dá)到百分之零點(diǎn)幾。圓形試樣的直徑能測(cè)定到士0」％的精度，但它是以平方的形式引入誤差的，綜合這些因素，極間法向真空電容的測(cè)量誤差為±0.5%。對(duì)表面加有電極的試樣的電容，若采用測(cè)微計(jì)電極測(cè)量時(shí)，只要試樣直徑比測(cè)微計(jì)電極足夠小，則只需要進(jìn)行極間法向電容的修正。采用其他的一些方法來(lái)測(cè)量?jī)呻姌O試樣時(shí)，邊緣電容和對(duì)地電容的計(jì)算將帶來(lái)一些誤差，因?yàn)樗鼈兊恼`差都可達(dá)到試樣電容的2%?40%。根據(jù)目前有關(guān)這新款絕緣子耐電蝕損測(cè)試儀 漏電測(cè)試儀些電容資料,計(jì)算邊緣電容的誤差為10%,計(jì)算對(duì)地電容的誤差為25%。因此帶來(lái)總的誤差是百分之幾十到百分之幾。當(dāng)電極不接地時(shí),對(duì)地電容誤差可大大減小。

采用測(cè)微計(jì)電極時(shí)，數(shù)量級(jí)是0.03的介質(zhì)損耗因數(shù)可測(cè)到真值的士0.數(shù)量級(jí)0.0002的介質(zhì)損耗因數(shù)可測(cè)到真值的士o介質(zhì)損耗因數(shù)的范圍通常是0.0001^0.1,但也可擴(kuò)展到0.1以上。頻率在10MHz和20MHz之間時(shí)，有可能檢測(cè)出0.的介質(zhì)損耗因數(shù)‘1?5的相對(duì)電容率可測(cè)到其真值的±2%,該精度不僅受到計(jì)算極間法向真空電容測(cè)量精度的限制，也受到測(cè)微計(jì)電極系統(tǒng)誤差的限制。絕緣材料的型號(hào)名稱(chēng)及種類(lèi)、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣日期（并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況）；試樣條件處理的方法和處理時(shí)間；電極裝置類(lèi)型，若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類(lèi)型；測(cè)量?jī)x器；試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對(duì)濕度以及試樣的溫度；

新款絕緣子耐電蝕損測(cè)試儀 漏電測(cè)試儀