X射線(xiàn)衍射儀用Schulz反射法進(jìn)行殘余奧氏體含量測(cè)量，在測(cè)量過(guò)程中，試樣表面與X射線(xiàn)的聚焦平面重合，而且試樣在測(cè)量的過(guò)程中固定不動(dòng)，通過(guò)θ和2θ 軸的轉(zhuǎn)動(dòng)(滿(mǎn)足Bragg方程)來(lái)完成測(cè)量，這時(shí)所測(cè)量的只是平行于試樣表面的那些晶面的衍射信息。

因此，影響XRD殘余奧氏體定量的重要因素是晶粒的擇優(yōu)取向。以馬氏體的(200)晶面的衍射為例，如果晶粒雜亂無(wú)章分布，那么從統(tǒng)計(jì)學(xué)上不同位置處(200)晶面所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優(yōu)取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線(xiàn)衍射儀測(cè)量時(shí)，有的位置參與衍射的(200)晶面增多，導(dǎo)致測(cè)量的(200)衍射峰的強(qiáng)度增加；而有的位置參與衍射的(200)晶面減少，導(dǎo)致測(cè)得的(200)衍射峰的強(qiáng)強(qiáng)度減弱。

而殘余奧氏體含量測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)《YB/T 5338—2006鋼中殘余奧氏體定量測(cè)定 X射線(xiàn)衍射儀法》是根據(jù)所測(cè)得的馬氏體、奧氏體衍射峰的強(qiáng)度比值進(jìn)行計(jì)算的，這樣在殘余奧氏體含量的真實(shí)值不變的前提下，由于擇優(yōu)取向引起衍射峰強(qiáng)度改變，導(dǎo)致殘余奧氏體的測(cè)量值(計(jì)算值)會(huì)與實(shí)際值差別很大，或者說(shuō)存在較大的誤差。

通常，由于受樣品表面狀況、晶粒取向、儀器參數(shù)等因素的影響，實(shí)際測(cè)量的衍射峰強(qiáng)度與理論值會(huì)存在一定的偏差。考慮到這個(gè)因素，YB/T5338-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：在利用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量計(jì)算時(shí)，馬氏體或奧氏體衍射峰的實(shí)測(cè)強(qiáng)度比與理論強(qiáng)度比允許波動(dòng)的相對(duì)范圍為±30%，即實(shí)測(cè)值和理論值偏差小于30%時(shí)可以采用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量的測(cè)量。

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線(xiàn)產(chǎn)品線(xiàn)誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線(xiàn)已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專(zhuān)用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。