上述的公式用于正圓柱體砝碼。如果被檢砝碼不是理想的正圓柱體砝碼，則需要做進(jìn)一步的修正，否則將產(chǎn)生較大的不確定度。

值得注意的是,在計(jì)算砝碼磁化率時(shí),是和被測(cè)砝碼的幾何參數(shù)時(shí)有關(guān)的，對(duì)這兩個(gè)幾何修正因子的測(cè)量也有不同的方式。

采用的是最基本的正圓柱體測(cè)量方法，需要提供兩組砝碼的正圓柱體幾何參數(shù),這里需要測(cè)量的是砝碼主體的直徑、底面下凹部分的直徑、頸部最狹窄處的直徑、提鈕最寬處的直徑、砝碼主體部分的高度、底面下凹部分的高度、砝碼總高度，再分別組合為“inner”圓柱體和“outer”圓柱體。

由國(guó)際(BIPM)研發(fā)出來(lái)的磁化率計(jì)，和瑞士MettlerToledo公司生產(chǎn)的磁化率計(jì)均采用了此方法計(jì)算被檢砝碼的幾何參數(shù)。

將砝碼分為五個(gè)部分的圓柱體和圓錐臺(tái)形，分別為:底面下凹部分、砝碼主體部分、頸部收縮部分、頸部放大部分和最后的提手部分。對(duì)于這五個(gè)不同的部分，需要分別提供五個(gè)不同的高度A、B、C、D、E，其均為底面到相應(yīng)標(biāo)記的高度;同時(shí)還要提供每個(gè)部分最上端和最下端的直徑。如果希望得到更逼真的被檢砝碼模擬圖形，就需要將砝碼分割成為更加精細(xì)的圓柱體和圓錐臺(tái)形。以使測(cè)量結(jié)果更加的準(zhǔn)確。德國(guó)Satorius生產(chǎn)的磁化率計(jì)采用此方法計(jì)算被檢砝碼的幾何參數(shù)。

兩種形式的磁化率計(jì)都提供了OIML形狀砝碼的幾何參數(shù)表。鑒于原一等、二等砝碼的形狀與OIML形狀砝碼有很大的區(qū)別，下面兩個(gè)表分別提供了按照BIPM研發(fā)的磁化率計(jì)要求測(cè)量的一等、二等砝碼幾何參數(shù)參考數(shù)值，請(qǐng)測(cè)量砝碼磁性的檢定人員參考、使用。

由此可見(jiàn)，空氣磁化率對(duì)于所有的實(shí)際情況都可以忽略不計(jì)。

以上是空氣磁化率對(duì)砝碼檢定的影響的詳細(xì)介紹，望采納！