x熒光光譜儀分析儀原理：

x熒光光譜儀分析儀是確定物質(zhì)中微量元素的種類(lèi)和含量的一種方法，又稱(chēng)X射線(xiàn)次級(jí)發(fā)射光譜分析，是利用原級(jí)X射線(xiàn)光子或其它微觀(guān)粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級(jí)的特征X射線(xiàn)（X光熒光）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)。

x熒光光譜儀分析儀簡(jiǎn)稱(chēng)光譜儀,就是被分析樣品在X射線(xiàn)照射下發(fā)出的X射線(xiàn)，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對(duì)上述X射線(xiàn)熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組份含量的儀器就是X射線(xiàn)熒光光譜儀。

臺(tái)式X熒光光譜儀工作原理圖

x熒光光譜儀分析儀分類(lèi)：

根據(jù)類(lèi)型不同，可以分為手持式X熒光光譜儀，便攜式X熒光光譜儀，臺(tái)式X熒光光譜儀分析儀。

根據(jù)分光方式的不同，X熒光光譜儀分析可分為能量色散和波長(zhǎng)色散兩類(lèi)，也就是通常所說(shuō)的能譜儀和波譜儀，縮寫(xiě)為EDXRF和WDXRF。

x熒光光譜儀分析儀圖片：

x熒光光譜儀分析儀構(gòu)造與組成：

X射線(xiàn)發(fā)生器（X射線(xiàn)管、高壓電源及穩(wěn)定穩(wěn)流裝置）、分光檢測(cè)系統(tǒng)（分析晶體、準(zhǔn)直器與檢測(cè)器）、記數(shù)記錄系統(tǒng)（脈沖輻射分析器、定標(biāo)計(jì)、計(jì)時(shí)器、積分器、記錄器）。

不同元素具有波長(zhǎng)不同的特征X射線(xiàn)譜，而各譜線(xiàn)的熒光強(qiáng)度又與元素的濃度呈一定關(guān)系，測(cè)定待測(cè)元素特征X射線(xiàn)譜線(xiàn)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度就可以進(jìn)行定性和定量分析。本法具有譜線(xiàn)簡(jiǎn)單、分析速度快、測(cè)量元素多、能進(jìn)行多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)。