X射線熒光光譜儀的常用探測(cè)器有二個(gè)：流氣計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器。閃爍計(jì)數(shù)器一般很穩(wěn)定，但是問(wèn)題常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器上。

今天我們創(chuàng)想儀器光譜儀廠家小編就臺(tái)式X熒光光譜儀計(jì)數(shù)率不穩(wěn)的問(wèn)題進(jìn)行一下講解：

流氣計(jì)數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄(約30nm)的鋁膜所構(gòu)成，由于窗膜承受大氣壓力，一段時(shí)間后隨著基體材料的延展，鋁膜可能產(chǎn)生裂紋，從而減弱導(dǎo)電性能，這種情況對(duì)脈沖高度分布影響不大，但會(huì)使計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。X射線熒光光譜儀一般都安裝1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流氣計(jì)數(shù)器的窗膜導(dǎo)電性能下降的可能性增大。

臺(tái)式X熒光光譜儀

檢查方法：在低X射線光管功率情況下，選一個(gè)KKα計(jì)數(shù)率約2000CPS的樣品，測(cè)定計(jì)數(shù)率，然后用一個(gè)鉀含量高的樣品取代原樣品，將光管調(diào)到滿功率，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值，測(cè)量幾個(gè)樣品，如窗膜導(dǎo)電正常，將得到原計(jì)數(shù)率，如窗膜導(dǎo)電性能變差，會(huì)發(fā)現(xiàn)計(jì)數(shù)率減小，然后慢慢回升至初始值，這時(shí)就應(yīng)調(diào)換窗膜。

創(chuàng)想光譜儀目前生產(chǎn)在售的EDX-6000臺(tái)式X熒光光譜儀融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性能得到全面保證。

臺(tái)式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)定，確定影響系數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測(cè)樣品類型相近，校正模型簡(jiǎn)單。

臺(tái)式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀 基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測(cè)物質(zhì)，通過(guò)對(duì)多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對(duì)應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測(cè)。