波長色散型X熒光光譜儀具有以下優(yōu)勢及特點：

波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF，簡稱理學波譜)一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

波長色散型X熒光光譜儀

1、波長色散型X熒光光譜儀儀器結(jié)構(gòu)簡單，省略了晶體的精密運動裝置,也無需精確調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線管功率低,一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)，空氣冷卻即可，節(jié)省電力。

能量色散型X熒光光譜儀(DE-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室和檢測系統(tǒng)等組成,與波長色散型熒光光儀的區(qū)別在于它不用分光晶體。由于這一特點，使能量色散型熒光光儀具有如下的優(yōu)點:

1、在能量色散譜型X熒光光譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時進入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ),也能清楚地表明背景和干擾線。因此,半導體檢測器X射線光譜儀能比晶體X射線光譜儀快，更快也更方便地完成定性分析工作。

能量色散型X熒光光譜儀

2、能量色散法的一個附帶優(yōu)點是測量整個分析線脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強度。因此，減小了化學狀態(tài)引起的分析線波長的漂移影響。由于同時累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計數(shù)的統(tǒng)計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時累積觀察和測量所有元素，而不是按特定譜線分析特定元素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。

3、能量色散型X熒光光譜儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近,X射線的利用率很高,不需光學聚集，在累積整個光譜時，對樣品位置變化不象波長色散型X熒光光譜儀那樣敏感，對樣品形狀也無特殊要求。