組件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證規(guī)范高低溫試驗(yàn)箱

說(shuō)明：
近年來(lái)，隨著車(chē)載應(yīng)用設(shè)備多功能化的進(jìn)展，而且在混合動(dòng)力車(chē)以及電動(dòng)汽車(chē)的普及進(jìn)程中，以電源監(jiān)視功能為首的新用途也在不斷地?cái)U(kuò)大，車(chē)用零件小型化以及高溫環(huán)境條件下(-40～+125℃、-55℃～+175℃)的高可靠性要求日益高漲，一臺(tái)汽車(chē)是由許許多多的零件組成，這些零件雖然有大小，但是全部都與汽車(chē)駕駛的生命安全息息相關(guān)，所以每一個(gè)零件都要被要求能達(dá)到zui高質(zhì)量與可靠度，甚至要求做到的理想，所以在汽車(chē)產(chǎn)業(yè)中，汽車(chē)零件的質(zhì)量控管的重要性往往*于零件的功能性之上，這個(gè)與一般民生用消費(fèi)電子產(chǎn)品的需求是不一樣的，也就是說(shuō)對(duì)于汽車(chē)零件而言，產(chǎn)品的zui大通動(dòng)力往往不是[技術(shù)]，而是[質(zhì)量安全]。為了達(dá)到對(duì)質(zhì)量要求的提升，就得靠嚴(yán)格管控程序來(lái)把關(guān)，目前汽車(chē)產(chǎn)業(yè)中針對(duì)于零件資格及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的就是AEC(汽車(chē)電子委員會(huì))，針對(duì)于主動(dòng)零件所設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q100]，針對(duì)于被動(dòng)組件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200]，其規(guī)范了被動(dòng)零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度。

AEC-Q100車(chē)用IC產(chǎn)品驗(yàn)證流程圖：

應(yīng)用于汽車(chē)的被動(dòng)組件分類(lèi)：
汽車(chē)等級(jí)電子元器件(符合AEC-Q200)、商用電子元器件、動(dòng)力傳動(dòng)組件、安全控制組件、舒適組件、通訊組件、音響組件

符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)的零件 摘要整理：
石英振蕩器：應(yīng)用范圍[胎壓監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(TPMS)、導(dǎo)航、防死鎖剎車(chē)系統(tǒng)(ABS)、安全氣囊和接近傳感器 車(chē)載多媒體，車(chē)用系統(tǒng)、備份攝影鏡頭]
車(chē)用厚膜芯片電阻：應(yīng)用范圍[汽車(chē)?yán)渑到y(tǒng)、空氣調(diào)節(jié)、信息系統(tǒng)、自動(dòng)導(dǎo)航、照明、車(chē)門(mén)及車(chē)窗遙控裝置]
車(chē)用夾層金屬氧化物壓敏電阻：應(yīng)用范圍[電機(jī)組件的浪涌保護(hù)、組件的浪涌吸收、半導(dǎo)體過(guò)壓保護(hù)]
耐低高溫表面貼裝固態(tài)模壓片式鉭電容器：應(yīng)用范圍[燃油質(zhì)量傳感器、變速器、節(jié)流閥、傳動(dòng)控制系統(tǒng)]
電阻：SMD電阻、薄膜電阻、熱敏電阻、壓敏電阻、車(chē)用抗硫化電阻、車(chē)用精密薄膜芯片電阻數(shù)組、可變電阻
電容：SMD電容、陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、可變電容
電感：加固電感、電感器
其它：LED薄膜氧化鋁陶瓷散熱基板、超音波組件、過(guò)電流保護(hù)SMD、過(guò)溫保護(hù)SMD、陶瓷共鳴器、車(chē)用PolyDiode半導(dǎo)體陶瓷電子保護(hù)組件、網(wǎng)絡(luò)芯片、變壓器、網(wǎng)絡(luò)組件、EMI干擾抑制器、EMI干擾過(guò)濾器、自恢復(fù)保險(xiǎn)絲

無(wú)源器件應(yīng)力測(cè)試等級(jí)與zui低溫度范圍及典型應(yīng)用案例：

備注：在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證：溫度等級(jí)必須設(shè)有產(chǎn)品壽命zui差情況和應(yīng)用設(shè)計(jì)，即每個(gè)試驗(yàn)中至少要有一個(gè)批次進(jìn)行針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。

認(rèn)證測(cè)試數(shù)量要求：
高溫儲(chǔ)存、高溫工作壽命、溫度循環(huán)、濕度抵抗、偏高濕度：77個(gè)
熱沖擊：30個(gè)
認(rèn)證測(cè)試數(shù)量注意事項(xiàng)：此為破壞性測(cè)試，組件不可重新用于其它認(rèn)證測(cè)試或是生產(chǎn)

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