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数控机床维修常用诊断仪器(四)集成电路测试仪

2025年02月26日 08:33:31 来源：泊头巨人重工机械有限公司 >> 进入该公司展台阅读量：15

    日前，数控机床都大量使用集成电路(简称IC)组成的印制电路板。检修这种集成电路为主组成的印制电路板的关键和难点在于IC元件的检测。日前，IC,检测的手段比较多，常用的除了上面介绍的示波器、逻辑分析仪等之外，数控维修人员还必须熟悉被维修的数控印制电路板的工作原理和lC元件管脚功能。泊头巨人重工机械有限公司是一家专业生产、立车、数控立车、数控龙门铣床、龙门加工中心、数控落地镗铣床的生产厂家，对集成电路测试仪的选择和应用也有一定的心得。

    1．集成电路测试仪结构原理
    图1-22是创能lC测试仪的结构框图。图中“V-I”为元件外特性测试部件，“LSI”为大规模IC分析测试板，“ICEF”为中小规模IC在线测度板，“JK”为仪器控制板。
    使用该仪器时要借助一台微机(IBM - PC／XT、AT)或各种兼容机，只要有360KB的内存，一个软盘驱动器，一个MB以上的硬盘机，一台彩色显示器，一个键盘即可。使用时将IC,测试仪的通信接口卡捕人微机的62线扩充槽，用电缆IC测试仪相连，DOS6.0的引导下，启动微机后，再把该仪器附带的6张软盘顺序拷人硬盘，即可开始进行测试工作。

    IC测试仪可供给测电路板5v电源，使之具有工作电压。再把取样夹子夹住被测IC，并键入其型号，这时微机就在软盘内寻找此种型号的IC数据，并将应输入的逻辑电平信号送至IC的输入引脚。由IC内部逻辑结构决定它应产生一个输出逻辑电平信号。此信号通过取样夹再返回微机。微机把它与标准输出逻辑进行比较。若两者相符，则被测IC是好的，否则，就认为被测lC电路失效。
    2集成电路测试仪的功能
    IC测试仪的主要功能如图1-23所示。

    在线测试，用于测试电路板上中小规模IC,，并且_被测IC的型号必须是该仪器数据中所存的电路系列，如TTL74、75系列、DRAM、SRAM、MEM()RY及GENERIC（仅用于“连线测试”）等。
    V - I曲线分析，是在无源状态下测试元件（包括IC或分立元件）的交流伏安特性V-I，以判断元件的外特性是否正常。
    LSI分析软件的日的，是分别用各个子测试去测试LSI器件的同有特性。它的一个主测试是由数个乃至数十个子测试所组成，而每个子测试对IC引脚的数据组合由独立驱动命令去配合。它通过“离线学习”得知IC参考文件，然后再与电路板上的被测lC进行分析比较测试，用得出的数据来判断被测IC是否失效。
    3．集成电路测试仪的使用方法
    下面着重以在线测试为例，具体说明lC测试仪的使用方法。
    在线测试主要包括以下三项测试：
    (1)快速测试快速测试时，先用取样夹夹住IC，再键人被测IC电路的名称如74LSOO。这时，显示器将显示图1-24所示的图形。该图中，右边为被测IC电路在该板上的状态，左边为测试结论。若显示结构为“Device Passes”，则表明被测IC是好的；若显示结论为“Fault”，则表明被测IC可能失效，需要记录下来。用此项测试可以很快地将被测电路板上所有的儿十片lC筛选一遍，并对记录下来可能失效的IC再进行诊断测试。

(2)诊断测试对快速测试筛选下来的可能失效的IC进行重点诊断测试，这时，显示器上将显示如图l-25的测试状态。图中，左边4、5引脚为仪器供给的输入逻辑电平波形，标准输出逻辑EQ为根据真值表计算出来的标准逻辑电平。引脚6为仪器实测的输出逻辑电平（虚方块表示电平不高不低）的波形。引脚6的波形与标准输出逻辑EQ的波形不符，则判断这组逻辑输出失效，即该片IC可能损坏。
用以上两项测试方法可以找出 85%以上的失效lC芯片。用以上测试方法判断后，可以再选择第三项测试——连线测试来判断lC的好坏。

(3)连线测试对难以用以上两项测试法判断的IC故障，即指在电路板上无法测试并排除的故障，如其他元器件的状态及连线对该被测lC的影响而造成的“假象”失效故障，要采用连线测试。
测试时，IC测试仪先对一块的好电路板上的IC,进行学习，并建立相应的文件。这时IC测试仪自动分析被“学习”的每片lC各引脚的连线状态，并把它们一一显示出来。同时把“学习”取得的IC输出逻辑电平波形与库存标准波形进行比较。两者一致，则证明被测lC是好的，否则被认为该片子失效。用这种测试可以找出以上两种测试难以判断的故障，以及开路、短路故障，其准确率达95%以上。

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