雙極板低阻測(cè)試測(cè)量?jī)x除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外,取樣前，除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外,試驗(yàn)應(yīng)在溫度23°C±2C、相對(duì)濕度50%±5%、環(huán)境潔凈度不大于10000級(jí)的條件下進(jìn)行。厚度應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求采用下列規(guī)定中的一種或幾種方法進(jìn)行測(cè)定。根據(jù)ISO1993,用精密千分尺或立式光學(xué)計(jì)或其他儀器測(cè)量單張?jiān)嚇拥暮穸取１∧ず穸刃∮?00jum時(shí),用立式光學(xué)計(jì)或其他合適的測(cè)厚儀測(cè)量。采用直徑為2mm的平面測(cè)帽或曲率半徑為25mm?50mm的球面測(cè)帽。測(cè)量壓力為0.5N?1N。薄膜厚度大于或等于100jum時(shí)，可用千分尺測(cè)量。薄膜厚度小于15/xm時(shí)，精度不低于0.2卩m；薄膜厚度大于或等于15mm但小于100時(shí)。

精度不低于1卩m；薄膜厚度大于或等于100/zm時(shí)，精度不低于2卩m。沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜（當(dāng)膜卷寬度小于400mm時(shí)，可適當(dāng)多取幾條），試樣不應(yīng)有皺折或其他缺陷。按ISO1993的要求，測(cè)量試樣的厚度。在試樣上等距離共測(cè)量27點(diǎn)，兩測(cè)量點(diǎn)間距不少于50mm。對(duì)未切邊的膜卷,測(cè)量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣50mm,對(duì)已切邊的卷，測(cè)量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣2mm。取27個(gè)測(cè)量值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果，并報(bào)告大值和小值。薄膜疊層試樣的數(shù)量為四個(gè)，每個(gè)疊層試樣由12層薄膜組成。其制備方法如下:從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時(shí)切取，并沿薄膜樣條的長(zhǎng)度方向纏繞于潔凈的樣板（推薦尺寸為：250mmX200mm,其中200mm為板的長(zhǎng)度方向尺寸）。

雙極板低阻測(cè)試測(cè)量?jī)x在測(cè)量之前去掉疊層的外層和內(nèi)層（實(shí)際測(cè)量十層），再進(jìn)行#!量。疊層試樣測(cè)量厚度除以10,得到單層薄膜厚度，取其平均值作為試驗(yàn)結(jié)果，并報(bào)告大值和小值。4.2.1原理:按ISO1991中的第1部分，根據(jù)測(cè)定的質(zhì)量、面積和密度計(jì)算樣品的厚度。分析天平感量。在薄膜卷上取三片長(zhǎng)方形試樣，每片質(zhì)量約300mg。用鋼板尺測(cè)量試樣面積，用分析天平測(cè)量試樣質(zhì)量。按本部分第5章規(guī)定測(cè)量試樣的密度。h——試樣的厚度，m——試樣的質(zhì)量，s——試樣的面積，單位為平方厘米（cm。d——試樣的實(shí)測(cè)密度,單位為克每立方厘米（g/cn?）。取三個(gè)計(jì)算值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果，結(jié)果取三位有效數(shù)字。用于評(píng)定成卷供貨的薄膜的變形情況